電子電器可靠性與環(huán)境試驗(yàn)：

電子電器產(chǎn)品日益完善的功能與人們對(duì)產(chǎn)品感受的不斷追求，要求電子電器生產(chǎn)企業(yè)必須在源頭上對(duì)材料質(zhì)量、可靠性、安全性作出有效監(jiān)控。

檢測(cè)試驗(yàn)范圍：

照明電器、家用電器、多媒體、無線產(chǎn)品、工科醫(yī)設(shè)備、通信產(chǎn)品、醫(yī)療設(shè)備、機(jī)車車輛設(shè)備等各類電器產(chǎn)品及其組建、元器件

相關(guān)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

1、低溫試驗(yàn):

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫GB/T2423.1-2008，IEC60068-2-1:2007

2、高溫試驗(yàn):

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫GB/T2423.2-2008 ，IEC60068-2-2:2007

3、恒定濕熱試驗(yàn):

環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cy: 恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn) GB/T2423.50-2012，IEC60068-2-67:1995

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分： 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn) GB/T 2423.3-2006，IEC 60068-2-78：2001

4、交變濕熱試驗(yàn):

:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h＋12h循環(huán)） GB/T2423.4-2008，IEC 60068-2-30:2005

5、振動(dòng)試驗(yàn):

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fi: 振動(dòng) 混合模式 GB/T 2423.58-2008，IEC 60068-2-80:2005

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fh：寬帶隨機(jī)振動(dòng)（數(shù)字控制）和導(dǎo)則 GB/T 2423.56-2006，IEC 60068-2-64:1993

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則：振動(dòng)（正弦）    GB/T 2423.10-2008，IEC 60068-2-6:1995

6、溫度變化試驗(yàn)

環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N: 溫度變化 GB/T 2423.22-2012，IEC 60068-2-14:2009 

7、溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)：

環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn) GB/T 2423.34-2012，IEC 60068-2-38:2009

8、自由跌落試驗(yàn)：

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed:自由跌落 GB/T 2423.8-1995，IEC 60068-2-32:1990

9、機(jī)械沖擊試驗(yàn)：

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊  GB/T 2423.5-1995，IEC 60068-2-27:1987

10、碰撞試驗(yàn)：

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則:碰撞 GB/T 2423.6-1995 ，IEC 60068-2-29:1987

11、傾跌與翻倒試驗(yàn)：

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒 (主要用于設(shè)備型樣品) GB/T 2423.7-1995，IEC 60068-2-31:1982

12、砂塵試驗(yàn)：

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)L：沙塵試驗(yàn) GB/T 2423.37-2006，IEC 60068-2-68:1994

13、鹽霧試驗(yàn)：

人造氣氛腐蝕試驗(yàn) 鹽霧試驗(yàn) GB/T 10125-2012，ISO 9227:2006 

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)  第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ka：鹽霧 GB/T 2423.17-2008，IEC60068-2-11:1981

14、溫度沖擊：

環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N: 溫度變化 GB/T 2423.22-2012，IEC 60068-2-14:2009

15、外殼防護(hù)試驗(yàn)：

外殼防護(hù)等級(jí)（IP代碼） GB 4208-2008，IEC 60529:2001

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)R：水試驗(yàn)方法和導(dǎo)則 GB/T 2423.38-2008，IEC 60068-2-18:2000

16、低溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)：

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AFc：散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn) GB/T 2423.35-2005，IEC 60068-2-50:1983

17、高溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)：

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/BFc：散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的高溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)  GB/T 2423.36-2005，IEC 60068-2-51:1983

18、溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（隨機(jī)）綜合：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABMFh

星拓提供的測(cè)試試驗(yàn)設(shè)備：

低溫試驗(yàn)箱，高溫試驗(yàn)箱，恒溫恒濕試驗(yàn)箱，高低溫試驗(yàn)箱，冷熱沖擊試驗(yàn)箱，快速溫變?cè)囼?yàn)箱，低氣壓試驗(yàn)箱，振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)，高低溫振動(dòng)三綜合試驗(yàn)箱，鹽霧試驗(yàn)箱，沙塵試驗(yàn)箱，IP防水試驗(yàn)箱，機(jī)械沖擊試驗(yàn)臺(tái)，碰撞試驗(yàn)臺(tái)，跌落試驗(yàn)機(jī)，老化試驗(yàn)箱。

具體測(cè)試項(xiàng)目：