高溫老化箱可對電子元器件施加高溫、高濕和一定的驅動電流進行加速老化并通過試驗結果評估電子器件是否存在表面玷污、引線焊接不良、溝道漏電等一系列缺陷，并以此為依據(jù)對電子元器件的工作條件進行調整和可靠性計算。

高溫老化箱可執(zhí)行的加速老化試驗項目

1.高溫加速老化是加速老化試驗中最基本的環(huán)境應力式高溫，在此過程中應定期對選定參數(shù)進行檢測，直至退化超過壽命終止即可。

2.恒溫老化試驗運行方式與高溫老化運行是相似的，在此過程中需要明確樣品數(shù)量以及允許失效的數(shù)量范圍。

3.溫度循環(huán)的加速老化試驗一般來說不是為了引起特定性能參數(shù)的退化而是提供封裝在組價里的光路長期機械穩(wěn)定性的附加說明。

電子元器件老化測試注意事項

1.老化設備應具備良好的防自激振蕩設施。

2.試驗過程如果需要進行施加電壓應從0開始緩慢增加，去電壓時也應緩慢減小，若違規(guī)操作瞬間脈沖會對器件造成損壞。

3.老化試驗結束后應在規(guī)定時間范圍內進行數(shù)據(jù)測量，若超時有些超差的參數(shù)會恢復到原來的數(shù)值。

4.為了能夠使得晶體管在最高溫下老化，應該準確對晶體管熱阻進行測量。

以上就是電子元器件在進行高溫老化試驗時應該注意的事項，希望能夠對大家有所幫助。

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