電子元器件的環(huán)境可靠性測試的常見測試對象就是構(gòu)成電子元器件的零部件，接下來我們具體了解零部件可執(zhí)行的環(huán)境可靠性測試項目有哪些，以及用戶該如何根據(jù)自己的需求正確選擇環(huán)境試驗設(shè)備。

零部件環(huán)境可靠性檢測項目包括以下幾項：

1. 溫度循環(huán)試驗：主要是確定光電子器件承受極高溫度和極低溫度的能力，以及極高溫度和極低溫度交替變化對光電子器件的影響。除了作為環(huán)境應(yīng)力試驗需要對光電子器件進(jìn)行溫度循環(huán)外，溫度循環(huán)還可以對管電子器件進(jìn)行加速老化。溫度循環(huán)的加速老化目的一般不是為了引起特定的性能參數(shù)的退化，而是為了提供封裝在組件里的光路長期機(jī)械穩(wěn)定性的附加說明。

2. 恒定濕熱試驗：用于測試密封和非密封光電子器件能否同時承受規(guī)定的溫度和濕度。

3. 高溫壽命試驗：用于測試光電子器件高溫加速老化失效機(jī)理和工作壽命。在實驗過程中，應(yīng)定期監(jiān)測選定的參數(shù)，直到退化超過壽命終止為止。

4. 高低溫存儲試驗：評估光電子器件能否經(jīng)受高溫和低溫下運輸和儲存。

5. 冷熱沖擊試驗：評估光電子器件在遭受到溫度劇變時的抵抗能力和產(chǎn)生的作用。

6. 恒溫試驗：與高溫運行試驗類似，但不同的是應(yīng)明確規(guī)定恒溫試驗樣品數(shù)量和允許失效數(shù)。

7. 快速溫變試驗：變化溫度的高溫加速老化試驗是定期按順序逐步升高溫度（例如，60℃、85℃和100℃）

上述零部件的環(huán)境可靠性測試大部分都可用高低溫濕熱交變試驗箱進(jìn)行，但冷熱沖擊試驗以及快速溫變試驗則分別需用溫度沖擊試驗箱和快速溫變試驗箱才可完成，因此用戶可根據(jù)上述的試驗項目的種類選擇合適的試驗箱。除了明確測試類型后，用戶在選購時還需要考慮以下幾點因素：

1. 尺寸要求∶測試樣品的大小以及一次性測量的最大的數(shù)量是決定設(shè)備內(nèi)容積的大小，所以需要明確測量測試產(chǎn)品的尺寸和體積。

2. 溫度濕度要求：明確測試所需達(dá)到的溫濕度要求。

3. 場地大?。涸O(shè)備運輸至用戶場地從電梯到走廊大門的長寬高都會影響設(shè)備的大小以及考慮是否有可拆裝設(shè)計的必要。

4. 電源∶一般來說小于150L的試驗箱一般采用 220V 單相電源；大于150L的試驗箱采用 380V三相電源，這樣的配置對整個實驗室的用電比較合理穩(wěn)定，對設(shè)備本身的壽命也有好處;

5. 制冷方式∶1m以內(nèi)的小型恒溫恒濕試驗箱一般采用風(fēng)冷，水冷通常應(yīng)用在大型溫恒濕試驗箱或快速溫度變化試驗箱上，冷熱沖擊試驗箱由于冷凍配置較大，通常也采用水冷。

6. 壓縮機(jī)品牌：壓縮機(jī)的好壞決定了試驗箱的制冷效果，購買時應(yīng)該注意下廠家使用的壓縮機(jī)品牌。

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