電源模塊在使用過(guò)程中容易發(fā)生故障的時(shí)期在早期和中后期，而電源生產(chǎn)廠家只能在早期的時(shí)候能夠進(jìn)行精確操縱，到了中后期便有一定的困難。所以在把商品交給顧客手里前，要把難題提早抹殺在交貨前。雖然生產(chǎn)流水線剛出去的模塊電源能夠立即應(yīng)用，但是許多時(shí)候商品到顧客手里才發(fā)覺(jué)用不上。這是由于在加工過(guò)程中僅僅做了簡(jiǎn)易的插電檢測(cè)，并沒(méi)有做長(zhǎng)期自然環(huán)境的插電檢測(cè)。因此電源模塊在出廠前需要?dú)v經(jīng)嚴(yán)苛的檢測(cè)，高低溫老化試驗(yàn)就是在其中一項(xiàng)。經(jīng)歷高低溫老化試驗(yàn)的電源模塊，能夠確保商品的品質(zhì)，使產(chǎn)品在應(yīng)用全過(guò)程中降低異常概率的出現(xiàn)，延長(zhǎng)使用壽命。

一、電源模塊高低溫老化試驗(yàn)的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

• GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

• GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

• GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

• GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法

• GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法

• GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則

• GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法

二、電源模塊高低溫老化試驗(yàn)的主要技術(shù)指標(biāo)

• 溫度范圍：-70℃、-40℃、-20℃～+150℃

• 溫度波動(dòng)度：±0.5℃

• 溫度均勻度：≤2.0℃

• 溫度偏差：±2.0℃

三、電源模塊高低溫老化試驗(yàn)的作用

• 在電源模塊開(kāi)展高低溫老化試驗(yàn)時(shí)，應(yīng)用電腦上開(kāi)展監(jiān)控器，能夠看得出電源在工作態(tài)度下的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，體現(xiàn)出了電源的應(yīng)用狀況。

• 長(zhǎng)期的脆化，可以監(jiān)控器出模塊特性隨溫度轉(zhuǎn)變而造成的更改。

• 在脆化時(shí)，可以查驗(yàn)出電源在加工過(guò)程中出現(xiàn)的難題，模塊可以長(zhǎng)期性平穩(wěn)運(yùn)作，可提升商品的可信性。

因?yàn)槟K電源越趨于小型化，應(yīng)用越來(lái)越廣泛，功率密度響應(yīng)越來(lái)越高，有關(guān)可靠性方面的題目尤其突出。尤其是有電解電容的電源模塊，高溫會(huì)使電解電容的電解液加速消費(fèi)，大大削減電解電容的壽命。高溫會(huì)使元器件材料加速老化，例如使得變壓器漆包線的絕緣特征降低，導(dǎo)致絕緣耐壓不良甚至造成匝間短路。優(yōu)秀的熱設(shè)計(jì)不僅可延伸模塊電源和其四周元器件的使用壽命，還可使整個(gè)產(chǎn)品發(fā)熱均勻，削減故障的發(fā)生。因此進(jìn)行高低溫老化試驗(yàn)是模塊電源廠家在確保模塊電源的質(zhì)量、競(jìng)爭(zhēng)能力及其價(jià)格高低的一項(xiàng)必要試驗(yàn)。

星拓作為國(guó)家高新技術(shù)企業(yè)，在環(huán)試設(shè)備行業(yè)技術(shù)沉淀20+年，國(guó)內(nèi)外2600+長(zhǎng)期合作客戶，長(zhǎng)期從事可靠性測(cè)試設(shè)備的研發(fā)和生產(chǎn)。若有任何高低溫老化試驗(yàn)箱等的相關(guān)需求，可隨時(shí)聯(lián)系廣東星拓環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備廠家進(jìn)行咨詢，星拓工程團(tuán)隊(duì)為您提供安全、可靠和易于操作的測(cè)試設(shè)備技術(shù)方案，助力驗(yàn)證產(chǎn)品品質(zhì)提升。